Marlene Mühlbacher
(Ehemalig)
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2017
- Veröffentlicht
Atomic origin for rejuvenation of a Zr-based metallic glass at cryogenic temperature
Bian, X. L., Wang, G., Yi, J., Jia, Y. D., Bednarčík, J., Zhai, Q. J., Kaban, I., Sarac, B., Mühlbacher, M., Spieckermann, F., Keckes, J. & Eckert, J., 25 Sept. 2017, in: Journal of alloys and compounds. 718, S. 254-259 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Deformation Mechanisms in Magnetron Sputtered Thin Film Metallic Glasses
Mühlbacher, M., Gammer, C., Konetschnik, R., Schöberl, T., Mitterer, C. & Eckert, J., März 2017.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
- 2016
- Veröffentlicht
TiN diffusion barrier failure by the formation of Cu3Si investigated by electron microscopy and atom probe tomography
Mühlbacher, M., Greczynski, G., Sartory, B., Mendez Martin, F., Schalk, N., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 19 Feb. 2016, in: Journal of Vacuum Science and Technology B, JVSTB. 34, 2, S. 1-8 8 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Diffusion Studies in the TiN/Cu Bilayer System and Beyond
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Greczynski, G., Lu, J., Schalk, N., Hultman, L. & Mitterer, C., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
- 2015
- Veröffentlicht
Copper diffusion into single-crystalline TiN studied by transmission electron microscopy and atom probe tomography
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Schalk, N., Keckes, J., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 574, S. 103-109Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Cu diffusion in single-crystal and polycrystalline TiN barrier layers: A high-resolution experimental study supported by first-principles calculations
Mühlbacher, M., Bochkarev, A. S., Mendez Martin, F., Sartory, B., Chitu, L., Popov, M., Puschnig, P., Spitaler, J., Ding, H., Schalk, N., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015, in: Journal of applied physics. 118, S. 085307-1 - 085307-11Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Diffusion in the Cu/TiN thin film system studied by atom probe tomography correlated with transmission electron microscopy and first-principles calculations
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Lu, J., Schalk, N., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Evaluation of TiN diffusion barrier layers with different microstructures by transmission electron microscopy and atom probe tomography
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Chitu, L., Lu, J., Schalk, N., Keckes, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Functional thin films for display and microelectronics applications
Mitterer, C., Jörg, T., Franz, R., Mühlbacher, M., Sartory, B., Mendez Martin, F. & Schalk, N., 2015, in: Berg- und hüttenmännische Monatshefte : BHM. 160, 5, S. 231-234Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Interdiffusion within model TiN/Cu and TiTaN/Cu systems synthesized by combinatorial thin film deposition
Mühlbacher, M., 2015Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation