Fahimeh Saghaeian

(Ehemalig)

Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten

  1. 2019
  2. Veröffentlicht

    Microstructure and stress gradients in TiW thin films characterized by 40 nm X-ray diffraction and transmission electron microscopy

    Saghaeian, F., Keckes, J., Woehlert, S., Rosenthal, M., Reisinger, M. & Todt, J., 1 Dez. 2019, in: Thin solid films. 691, 137576.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Investigation of high cyclic fatigue behaviour of thin copper films using MEMS structure

    Saghaeian, F., Lederer, M., Hofer, A., Todt, J., Keckes, J. & Khatibi, G., 1 Nov. 2019, in: International Journal of Fatigue. 128, 105179.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht