Christian Mitterer
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Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2015
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Restrictions of stress measurements using the curvature method by thermally induced plastic deformation of silicon substrates
Saringer, C., Tkadletz, M. & Mitterer, C., 25 Juli 2015, in: Surface & coatings technology. 274, S. 68-75 8 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Effect of wavelength modulation of arc evaporated Ti-Al-N/Ti-Al-V-N multilayer coatings on microstructure and mechanical/tribological properties
Pfeiler-Deutschmann, M., Mayrhofer, P. H., Chladil, K., Penoy, M., Michotte, C., Kathrein, M. & Mitterer, C., 1 Jan. 2015, in: Thin solid films. 581, S. 20-24 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Advances in coating characterization: Towards a comprehensive understanding of microstructure-property-performance relations of hard coatings: From improved composition/microstructure/property relations to insights in degradation behavior
Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung
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Antibacterial silicon oxide thin films doped with zinc and copper grown by atmospheric pressure plasma chemical vapor deposition: Microstructure and antibacterial / cytotoxic properties of Zn- and Cu-SiOx films
Mitterer, C., Jäger, E., Schmidt, J., Pfuch, A., Spange, S., Beier, O., Jantschner, O. & Daniel, R., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Copper diffusion into single-crystalline TiN studied by transmission electron microscopy and atom probe tomography
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Schalk, N., Keckes, J., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 574, S. 103-109Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cu diffusion in single-crystal and polycrystalline TiN barrier layers: A high-resolution experimental study supported by first-principles calculations
Mühlbacher, M., Bochkarev, A. S., Mendez Martin, F., Sartory, B., Chitu, L., Popov, M., Puschnig, P., Spitaler, J., Ding, H., Schalk, N., Lu, J., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015, in: Journal of applied physics. 118, S. 085307-1 - 085307-11Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Deformation behavior of nanostructured molybdenum thin films on flexible substrates
Jörg, T., Cordill, M., Glushko, O., Franz, R., Winkler, J. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung
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Diffusion in the Cu/TiN thin film system studied by atom probe tomography correlated with transmission electron microscopy and first-principles calculations
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Lu, J., Schalk, N., Hultman, L. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Dry-blasting of CVD α-Al2O3 hard coatings: Influence of blasting media size, hardness and coating texture on the stress-depth gradients investigated by X-ray nanodiffraction
Tkadletz, M., Schalk, N., Keckes, J., Krajinovic, I., Czettl, C. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Effect of growth conditions on stress, texture, roughness and self-annealing behavior of sputter deposited Cu films
Souli, I. & Mitterer, C., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
