Rostislav Daniel

Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten

  1. 2016
  2. Veröffentlicht

    Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions: Iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae

    Zalesak, J., Todt, J., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Burghammer, M., Daniel, R. & Keckes, J., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, 6, S. 2217-2225 9 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Cross-sectional stress distribution in AlxGa1-xN heterostructure on Si(111) substrate characterized by ion beam layer removal method and precession electron diffraction

    Reisinger, M., Zalesak, J., Daniel, R., Tomberger, M., Weiss, J. K., Darbal, A. D., Petrenec, M., Zechner, J., Daumiller, I., Ecker, W., Sartory, B. & Keckes, J., 2016, in: Materials and Design. 106, S. 476-481 6 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Cross-sectional structure-property relationship in a graded nanocrystalline Ti1-xAlxN thin film

    Zalesak, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Krywka, C., Kiener, D., Mayrhofer, P. H. & Keckes, J., 2016, in: Acta materialia. 102, S. 212-219 8 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht
  6. Veröffentlicht

    Fracture toughness enhancement of brittle nanostructured materials by spatial heterogeneity: A micromechanical proof for CrN/Cr and TiN/ SiOx multilayers

    Daniel, R., Meindlhumer, M., Zalesak, J., Sartory, B., Zeilinger, A., Mitterer, C. & Keckes, J., 2016, in: Materials & design. 104, S. 227-234 8 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Influence of varying nitrogen partial pressures on microstructure, mechanical and optical properties of sputtered TiAlON coatings

    Schalk, N., Simonet Fotso, J., Holec, D., Jakopic, G., Fian, A., Terziyska, V., Daniel, R. & Mitterer, C., 2016, in: Acta materialia. 119, S. 26-34 9 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht
  9. Veröffentlicht
  10. Veröffentlicht
  11. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via

    Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)