Rostislav Daniel
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Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2006
- Veröffentlicht
Rapid determination of stress factors and absolute residual stresses in thin films
Martinschitz, K. J., Eiper, E., Massl, S., Köstenbauer, H., Daniel, R., Fontalvo, G., Mitterer, C. & Keckes, J., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 777-783Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermal stability of magnetron sputtered Zr–Si–N films
Daniel, R., Musil, J., Zeman, P. & Mitterer, C., 2006, in: Surface & coatings technology. 201, S. 3368-3376Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
Beschichtung / Charakterisierung
Rebelo De Figueiredo, M., Franz, R., Daniel, R., Neidhardt, J. & Mitterer, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure and properties of magnetron sputtered Zr-Si-N films with a high (≥25 at.%) Si content
Musil, J., Daniel, R., Zeman, P. & Takai, O., 2005, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2003
- Veröffentlicht
Structure and mechanical properties of magnetron sputtered Zr-Ti-Cu-N films
Musil, J. & Daniel, R., 2003, in: Surface & coatings technology.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
