Christian Mitterer
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2013
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Industrial-scale sputter deposition of Cr1-xAlxN coatings with various compositions from segmented powder-metallurgical targets
Weirather, T., Grasser, S., Czettl, C., Polcik, P., Kathrein, M. & Mitterer, C., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Influence of Al and Si content on structure and mechanical properties of arc evaporated Al-Cr-Si-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Lechthaler, M., Pocik, P. & Mitterer, C., 2013, in: Thin solid films. 534, S. 403-409Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Influence of Fe impurities on structure and properties of arc-evaporated AlCrN coatings
Mühlbacher, M., Franz, R., Paulitsch, J., Rudigier, H., Polcik, P., Mayrhofer, P. H. & Mitterer, C., 2013, in: Surface & coatings technology. 215, S. 96-103Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Insights into the atomic and electronic structure triggered by ordered nitrogen vacancies in CrN
Zhang, Z., Li, H., Daniel, R., Mitterer, C. & Dehm, G., 2013, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 87, S. 0141041-0141049Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Interfacial and inter- diffusion studies of epitaxial TiN/Cu layers on MgO (001) - A comprehensive approach by high resolution TEM and APT
Mühlbacher, M., Mendez Martin, F., Sartory, B., Keckes, J., Lu, J., Lars, H. & Mitterer, C., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Microstructure and thermal stability of corundum-type (Al0.5Cr0.5)2O3 solid solution coatings grown by cathodic arc evaporation
Edlmayr, V., Pohler, M., Letovsky-Papst, I. & Mitterer, C., 2013, in: Thin solid films. 534, S. 373-379Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Novel TiAlN nanostructured CVD coatings with superior oxidation resistance
Keckes, J., Todt, J., Daniel, R., Mitterer, C., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Origins of microstructure and stress gradients in nanocrystalline thin films: The role of growth parameters and self-organization
Daniel, R., Keckes, J., Matko, I., Burghammer, M. & Mitterer, C., 2013, in: Acta materialia. 61, S. 6255-6266Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Self-organized periodic soft-hard nanolamellae in polycrystalline TiAlN thin films
Keckes, J., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Sartory, B., Köpf, A., Weißenbacher, R. & Pitonak, R., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 29-32Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Transmission electron microscopy characterization of CrN films on MgO(001)
Harzer, T. P., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2013, in: Thin solid films. 545, S. 154-160 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
