Influence of Nb on the microstructure and fracture toughness of (Zr_0.76Fe_0.24)_100-xNb_x nano-eutectic composites

Maity, T., Dutta, A., Jana, P. P., Prashanth, K. G., Eckert, J. & Das, J., 11 Jan. 2018, in: Materials. 11.2018, 1, 9 S., 113.

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Microstructure and mechanical properties of a heat-treatable Al-3.5Cu-1.5Mg-1Si alloy produced by selective laser melting

Wang, P., Gammer, C., Brenne, F., Prashanth, K. G., Mendes, R. G., Rümmeli, M. H., Gemming, T., Eckert, J. & Scudino, S., 10 Jan. 2018, in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. 711.2018, January, S. 562-570 9 S.

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Electrically reversible cracks in an intermetallic film controlled by an electric field

Liu, Z. Q., Liu, J. H., Biegalski, M. D., Hu, J-M., Shang, S. L., Ji, Y., Wang, J. M., Hsu, S. L., Wong, A. T., Cordill, M., Gludovatz, B., Marker, C., Yan, H., Feng, Z. X., You, L., Lin, M. W., Ward, T. Z., Liu, Z. K., Jiang, C. B., Chen, L. Q., &3 mehrRitchie, R. O., Christen, H. M. & Ramesh, R., 3 Jan. 2018, in: Nature Communications. 41.2018, 9, 7 S., 9.

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Nanoindentation creep behavior of Cu–Zr metallic glass films

Wang, Y., Zhang, J., Wu, K., Liu, G., Kiener, D. & Sun, J., 2 Jan. 2018, in: Materials Research Letters [Elektronische Ressource]. 6, 1, S. 22-28 7 S.

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MnFePSi-Based Magnetocaloric Packed Bed Regenerators: Structural Details Probed by X-Ray Tomography: Structural details probed by X-ray tomography

Funk, A., Zeilinger, M., Miehe, A., Sopu, D., Eckert, J., Dötz, F. & Waske, A., 1 Jan. 2018, in: Chemical engineering science : Génie chimique. 175, S. 84-90 7 S.

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Thermodynamic instability of a nanocrystalline, single-phase TiZrNbHfTa alloy and its impact on the mechanical properties

Schuh, B., Völker, B., Todt, J., Schell, N., Perrière, L., Li, J., Couzinié, J. P. & Hohenwarter, A., 1 Jan. 2018, in: Acta materialia. 142, S. 201-212 12 S.

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High strength nanostructured Al-based alloys through optimized processing of rapidly quenched amorphous precursors

Kim, S. Y., Lee, G. Y., Park, G. H., Kim, H. A., Lee, A. Y., Scudino, S., Prashanth, K. G., Kim, D. H., Eckert, J. & Lee, M. H., Jan. 2018, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Scientific reports (London : Nature Publishing Group). 8.2018, 12 S., 1090.

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30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiO_x thin film

Keckes, J., Daniel, R., Todt, J., Zalesak, J., Sartory, B., Braun, S., Gluch, J., Rosenthal, M., Burghammer, M. C., Mitterer, C., Niese, S. & Kubec, A., 2018, in: Acta materialia. 144, S. 862-873

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