30 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered Ti N-SiOx thin film
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Autoren
Organisationseinheiten
Externe Organisationseinheiten
- Fraunhofer Institute for Material and Beam Technology (IWS)
- Fraunhofer IKTS
- European Synchrotron Radiation Facility : ESRF
- AXO Dresden GmbH
- Materials Center Leoben Forschungs GmbH
- Erich Schmid Institute of Materials Science of the Austrian Academy of Sciences
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 862-873 |
| Fachzeitschrift | Acta materialia |
| Jahrgang | 144 |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 2018 |
