Tiphaine Marie Albane Pelisset
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Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2015
- Veröffentlicht
Degradation analysis of thin die-attach layer under cyclic thermal load in microelectronics packaging
Pelisset, T. M. A., 2015Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
