Markus Kratzer

Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten

  1. 2012
  2. Veröffentlicht

    Dynamic plowing lithography and 6P thin film growth on graphene investigated by atomic force microscopy

    Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Electrical and photovoltaic properties of self assembled Ge nanodomes on Si(001)

    Kratzer, M., Prehal, C., Rubezhanska, M., Beinik, I., Kondratenko, S., Kozyrev, Y. & Teichert, C., 2012, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 86, S. 245320-1-245320-7

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Growth of para-hexaphenyl thin films on graphene:an AFM study

    Kratzer, M., Klima, S., Vasić, B., Gajić, R., Matković, A., Ralević, U. & Teichert, C., 2012.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    The contact charging of insulators by atomic force microscopy

    Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2012.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    UV-Induced Modulation of the Conductivity of Polyaniline: Towards a Photo-Patternable Charge Injection Layer for Structured Organic Light Emitting Diodes

    Grießer, T., Radl, S. V., Köpplmayr, T., Wolfberger, A., Edler, M., Pavitschitz, A., Kratzer, M., Teichert, C., Rath, T., Trimmer, G., Schwabegger, C., Simbrunner, C., Sitter, H. & Kern, W., 2012, in: Journal of materials chemistry. 22, S. 2922-2928

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Wzrost molekul para-sexiphenylu na zmodykowanej wiazka jonowa powierzchni TiO2 (110)

    Wrana, D., Kratzer, M., Teichert, C. & Krok, F., 2012.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  8. 2011
  9. Veröffentlicht

    Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy

    Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Electrical Transport in Individual ZnO Nanorods Studied by Photo-Conductive Atomic-Force Microscopy

    Kratzer, M., 2011.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Electrical Transport of Single ZnO Nanorods studied by Photo- Conductive AFM

    Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  12. 2010
  13. Veröffentlicht

    AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2

    Kratzer, M., Klima, S., Beinik, I., Shen, Q., Lugstein, A. & Teichert, C., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)