Markus Kratzer
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2014
- Veröffentlicht
Roughness analysis von polymerbeschichteten Edelstahlproben2014
Genser, J., Kratzer, M., Ganser, C. & Teichert, C., 2014Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Studying interaction between mineral particles by atomic force spectroscopy
Klima, S., Mirkowska, M., Kratzer, M., Flachberger, H., Teichert, C. & Pondicherry, K., 2014.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2013
- Veröffentlicht
Photoresponse from single upright-standing ZnO nanorods explored by photoconductive AFM
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Piryatinski, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F., Djurišić, A. B. & Teichert, C., 17 Apr. 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology. 4, 1, S. 208-217 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Atomic force microscopy based manipulation of graphene using dynamic plowing lithography
Vasić, B., Kratzer, M., Matković, A., Nevosad, A., Ralević, U., Jovanović, D., Ganser, C., Teichert, C. & Gajić, R., 2013, in: Nanotechnology. 24, S. 015303-015303Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Charge behavior on insulating monocrystallic surfaces by Kelvin probe force microscopy
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Charging behavior of the calcite (100) surface investigated by KPFM
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Elektrostatische Trennung in der Rohstoffverarbeitung - Bestandsaufnahme, Herausforderungen und Ausblick
Flachberger, H., Mirkowska, M., Oberrauner, A., Geißler, T., Kratzer, M. & Teichert, C., 2013, Rohstoffe sind Zukunft. S. 349-369Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Kelvin probe force microscopy investigations of the contact charging of single crystalline insulators
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Temperature dependent growth morphologies of parahexaphenyl on SiO2 supported exfoliated graphene
Kratzer, M., Klima, S., Teichert, C., Gajić, R., Vasić, B., Matković, A. & Ralevic, U., 2013, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 31, S. 04D114-1-04D114-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
