Daniel Kiener
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2006
- Veröffentlicht
Characterization of mechanical properties on the micron size. Bericht 2
Kiener, D. & Dehm, G., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of mechanical properties on the micron size. Bericht 3
Kiener, D. & Dehm, G., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of mechanical properties on the micron size. Bericht 4
Kiener, D. & Dehm, G., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Determination of Mechanical Properties of Copper at the Micron Scale
Kiener, D., Motz, C., Schöberl, T., Jenko, M. & Dehm, G., 2006, in: Advanced Engineering Materials. 8, S. 1119-1125Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
In-Situ compression tests on micron-sized copper pillars
Kiener, D., Motz, C. & Dehm, G., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
In-situ TEM tensile testing of thin Au films: A transition in deformation mechanism
Oh, S. H., Kiener, D., Legros, M., Gruber, P., Arzt, E. & Dehm, G., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Micron beam bending and compression tests - micromechanical properties of copper
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T. & Dehm, G., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructural evolution of the deformed volume beneath microindents in tungsten and copper
Kiener, D., Pippan, R., Motz, C. & Kreuzer, E., 2006, in: Acta materialia. 54, S. 2801-2811Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructural investigation of the deformation zone below nanoindents in copper, silver and nickel
Rester, M., Kiener, D., Kreuzer, H., Dehm, G. & Motz, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
Fokussierte Ionenstrahl-Technik (FIB) in der Mikro- und Nanomechanik
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 162-163Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
