Microscopy and microanalysis, 1431-9276
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 1431-9276 |
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Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2010
- Veröffentlicht
Mitigating Focused Ion Beam Damage in Molybdenum Nanopillars by In Situ Annealing
Lowry, M. B., Kiener, D., Le Blanc, B. B., Chisholm, C., Florando, J. N., Morris, J. W. J. & Minor, A. M., 2010, in: Microscopy and microanalysis. 16, S. 1748-1749Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2009
- Veröffentlicht
Sensitivity and Quantitativity in Atom Probe Tomography
Danoix, F., Bostel, A., Leitner, H., Jessner, P., Sauvage, X., Gouné, M. & Danoix, R., 2009, in: Microscopy and microanalysis. S. 258-259Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2007
- Veröffentlicht
Conventional TEM investigation of the FIB damage in copper
Kiener, D., Jörg, T., Rester, M., Motz, C. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 100-101Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Size-Induced Transition from Perfect to Partial Dislocation Plasticity in Single Crystal Au Films on Polyimide
Oh, S. H., Legros, M., Kiener, D., Gruber, P. A. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 278-279Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2003
- Veröffentlicht
Quantification of the Recrystallized Fraction in a Nickel-Base-Alloy from EBSD data
Mitsche, S., Pölt, P., Sommitsch, C. & Walter, M., 2003, in: Microscopy and microanalysis. Suppl. 3, S. 344-345Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
