Rostislav Daniel
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2012
- Veröffentlicht
Mesure de la conductivite thermique d'une couche de CrN par deux techniques de radiometrie photothermique
Battaglia, J.-L., Martan, J., Kusiak, A. & Daniel, R., 2012, Congres francais de thermique. S. 108-114Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Microstructure and mechanical properties of nanocrystalline Al-Cr-B-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Lechthaler, M., Rudigier, H., Polcik, P. & Mitterer, C., 2012, in: Surface & coatings technology. 213, S. 1-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructure modifications of CrN coatings by pulsed bias sputtering
Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2012, in: Surface & coatings technology. 206, S. 4666-4671Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Oxidation behavior of arc evaporated Al-Cr-Si-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Mitterer, C., Mayrhofer, P. H., Lechthaler, M. & Polcik, P., 2012, in: Journal of vacuum science & technology / A (JVST). 30, S. 061501-1-061501-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure related stress gradients in thin nanocrystalline films revealed by X-ray nanodiffraction
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
TEM characterization of CrN thin films epitaxially grown on MgO (001)
Harzer, T. P., Kormout, K., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermally treated hard coatings characterized by XRD coupled with four-point bending
Steffenelli, M., Riedl, A., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2011
- Veröffentlicht
Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
Zhang, Z., Daniel, R., Dehm, G. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Atomic and electronic structures of a transition layer at the CrN/Cr interface
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 043524-1-043524-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Comparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011, Proceeding of Multinational Congress on Microscopy. S. 29-30Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Comparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Concept for optimized coating design and architecture
Daniel, R. & Mitterer, C., 2011, Abstract International conference on Potential and Applications of Thin Ceramic and Metal Coatings. S. 37-40Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Nano-Beam X-ray Diffraction as a Tool to Characterize Gradients of Microstructure and Residual Stress in Nanocrystalline Hard Coatings
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Schoeder, S., Burghammer, M. & Keckes, J., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nano-beam-x-ray diffraction reveals strain, composition, texture and crystal size gradients across nano-crystalline thin films
Keckes, J., Daniel, R., Bartosik, M., Mitterer, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Size effect of thermal expansion and thermal/intrinsic stresses in nanostructured thin films: Experiment and model
Daniel, R., Holec, D., Bartosik, M., Keckes, J. & Mitterer, C., 2011, in: Acta materialia. 59, S. 6631-6645Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Stress design of hard coatings
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2011, Proceeding of International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 55-55Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- 2010
- Veröffentlicht
A Numerical study on the fatigue resistance of a coated tool steel
Schöngrundner, R., Endler, S. B., Daniel, R., Ebner, R., Mitterer, C. & Kolednik, O., 2010, Proceedings of 18th European Conference of Fractue. S. 1-9Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Atomic Structure Characterization of Cu/MgO(001) Interfaces by CS-Corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Gall, D. G. & Dehm, G., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 14-14Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
