Department Werkstoffwissenschaft
Organisation: Departments & Institute
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2006
- Veröffentlicht
Phase transition and electronic properties of fluorene: A joint experimental and theoretical high pressure study
Heimel, G., Hummer, H., Draxl, C., Chunwachirasiri, W., Winokur, M. J., Han, M., Oehzelt, M., Aichholzer, A. & Resel, R., 2006, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. S. 024109-1-024109-13Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Phase Transitions and Recrystallization in a Ti-46at%Al-9at%Nb Alloy as Observed by In-situ High-Energy X-ray Diffraction
Liss, K-D., Clemens, H., Bartels, A., Stark, A. & Buslaps, T., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Physisorbed films in periodic mesoporous silica studied by in-situ synchrotron small-angle diffraction
Zickler, G., Jähnert, S., Wagermaier, W., Funari, S. S., Findenegg, G. H. & Paris, O., 2006, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 73, S. 184109-184109Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Precipitation behaviour of Ni and Al alloyed hot-work tool steels and its effects on material properties
Erlach, S. D., 2006Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Properties of reactively sputtered W-Si-N films
Musil, J., Daniel, R., Soldán, J. & Zeman, P., 2006, in: Surface & coatings technology.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Provide temperature and temperature range data where distinct reactions in the investigated coatings occur, and amount of volatile elements if they appear
Mayrhofer, P. H., Moser, M. & Rovere, F., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Rapid determination of stress factors and absolute residual stresses in thin films
Martinschitz, K. J., Eiper, E., Massl, S., Köstenbauer, H., Daniel, R., Fontalvo, G., Mitterer, C. & Keckes, J., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 777-783Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Rapid determination of stress factors and residual stresses in anisotropic thin films
Martinschitz, K-J., Eiper, E. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Recrystallisation and Phase Transitions in a g-TiAl Based Alloy as Observed by ex- and in-situ High-energy X-ray Diffraction
Liss, K-D., Bartels, A., Clemens, H., Bystrzanowski, S., Stark, A., Buslaps, T., Schimansky, F-P., Gerling, R., Scheu, C. & Schreyer, A., 2006, in: Acta materialia. 54, S. 3721-3735Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses and strains in thin films characterized by the combination of sin2ψ and substrate curvature methods
Martinschitz, K-J., Eiper, E. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
