Lehrstuhl für Materialphysik (430)
Organisation: Lehrstuhl
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2006
- Veröffentlicht
Rapid determination of stress factors and absolute residual stresses in thin films
Martinschitz, K. J., Eiper, E., Massl, S., Köstenbauer, H., Daniel, R., Fontalvo, G., Mitterer, C. & Keckes, J., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 777-783Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Rapid determination of stress factors and residual stresses in anisotropic thin films
Martinschitz, K-J., Eiper, E. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses and strains in thin films characterized by the combination of sin2ψ and substrate curvature methods
Martinschitz, K-J., Eiper, E. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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SAXS experiments on coated polybenzimidazol foils using the NanoSTAR
Görgl, R. & Dehm, G., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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SAXS experiments on colloidal suspensions using the NanoSTAR
Görgl, R. & Dehm, G., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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SAXS experiments on polymeric solutions
Görgl, R. & Dehm, G., 2006Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Schadensentwicklung in Torionsproben einer Nickelbasislegierung und der Einfluss der Schädigung auf das Versagen im Zugversuch
Trattnig, G., Kleber, S. & Pippan, R., 2006, Tagungsband XXV.. S. 185-192Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Severe Plastic Deformation of Tungsten Alloys and its Influence on Fracture Behaviour
Faleschini, M., 2006Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction
Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Size effect in metallic thin films characterized by low-temperature X-ray diffraction
Eiper, E., Martinschitz, K. J., Dehm, G. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)