Lehrstuhl für Materialphysik (430)
Organisation: Lehrstuhl
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
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Thermal expansion of rock-salt cubic AlN
Bartosik, M., Todt, M., Holec, D., Todt, J., Zhou, L., Riedl, H., Böhm, H. J., Rammerstorfer, F. G. & Mayerhofer, P. H., 2015, in: Applied physics letters. 107, S. 071602-1 - 071602-5Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Interface controlled microstructure evolution in nanolayered thin films
Bartosik, M., Keckes, J., Persson, P. O. Å., Riedl, H. & Mayrhofer, P. H., 2016, in: Scripta materialia. 123, S. 13-16 4 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Cross-sectional X-ray nanobeam diffraction analysis of a compositionally graded CrNx thin film
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Matko, I., Burghammer, M., Mayrhofer, P. H. & Keckes, J., 2013, in: Thin solid films. 542, S. 1-4Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermally-induced formation of hexagonal AlN in AlCrN hard coatings on sapphire: Orientation relationships and residual stresses
Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Surface & coatings technology. 205, S. 1320-1323Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Lateral gradients of phases, residual stress and hardness in a laser heated Ti0.52Al0.48N coating on hard metal
Bartosik, M., Daniel, R., Zhang, Z., Deluca, M., Ecker, W., Steffenelli, M., Klaus, M., Genzel, C., Stefenelli, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012, in: Surface & coatings technology. 206, S. 4502-4510 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Thermal expansion of Ti-Al-N and Cr-Al-N coatings
Bartosik, M., Holec, D., Apel, D., Klaus, M., Genzel, C., Keckes, J., Arndt, M., Polcik, P., Koller, C. & Mayrhofer, P. H., 2017, in: Scripta materialia. 127, S. 182-185 4 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Non-homogeneous structural and mechanical properties of nanocrystalline thin films characterized by advanced X-ray diffraction techniques
Bartosik, M., 2012, 134 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Eigenspannungsgradienten in kugelgestrahlten TiN und TiCN Schichten charakterisiert mittels Hochtemperatur Röntgenbeugung
Bartosik, M., 2009Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Diplomarbeit
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Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer
Benediktovitch, A. I., Ulyanenkova, T., Keckes, J. & Ulyanenkov, A. P., 2014, in: Journal of applied crystallography. S. 1931-938Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
