Journal of applied crystallography, 0021-8898
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0021-8898, 1600-5767 |
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Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2014
- Veröffentlicht
Sample tilt-free characterization of residual stress gradients in thin coatings using an in-plane arm-equipped laboratory X-ray diffractometer
Benediktovitch, A. I., Ulyanenkova, T., Keckes, J. & Ulyanenkov, A. P., 2014, in: Journal of applied crystallography. S. 1931-938Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2013
- Veröffentlicht
Two-dimensional indirect Fourier transformation for evaluation of small-angle scattering data of oriented samples
Fritz-Popovski, G., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1447-1454Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2012
- Veröffentlicht
Apparent lattice expansion in ordered nanoporous silica during capillary condensation of fluids
Prass, J., Müter, D., Erko, M. & Paris, O., 2012, in: Journal of applied crystallography. 45, S. 798-806Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
A two-dimensional waveguide beam for X-ray nanodiffraction
Krywka, C., Neubauer, H., Priebe, M., Salditt, T., Keckes, J., Buffet, A., Roth, S. V., Doehrmann, R. & Mueller, M., 2012, in: Journal of applied crystallography. S. 85-92Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2010
- Veröffentlicht
In-situ small-angle neutron scattering study of pore filling and pore emptying in ordered mesoporous silica
Erko, M., Wallacher, D., Brandt, A. & Paris, O., 2010, in: Journal of applied crystallography. 43, S. 1-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Scanning small-angle X-ray scattering analysis of the size and organization of the mineral nanoparticles in fluorotic bone using a stack of cards model
Gourrier, A., Li, C., Siegel, S., Paris, O., Roschger, P., Klaushofer, K. & Fratzl, P., 2010, in: Journal of applied crystallography. 43, S. 1385-1392Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2009
- Veröffentlicht
Elastic constants of fibre-textured thin films determined by X-ray diffraction
Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2009, in: Journal of applied crystallography. 42, S. 1-13Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2007
- Veröffentlicht
Fracture of poly(vinylidene fluoride): a combined synchrotron and laboratory in-situ X-ray scattering study
Maier, G. A., Wallner, G., Lang, R., Keckes, J., Amentisch, H. & Fratzl, P., 2007, in: Journal of applied crystallography. 40, Supplement April, S. s564-s567Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Pore lattice deformation in ordered mesoporous silica studied by in-situ small-angle X-ray diffraction
Zickler, G., Jähnert, S., Funari, S. S., Findenegg, G. H. & Paris, O., 2007, in: Journal of applied crystallography. 40, S. s522-s526Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
