Stress factors and absolute residual stresses in thin films determined by the combination of curvature and sin2 methods

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Titel in ÜbersetzungStress factors and absolute residual stresses in thin films determined by the combination of curvature and sin2 methods
OriginalspracheEnglisch
StatusVeröffentlicht - 2006
Veranstaltung7th European Conference Residual Stresses ECRS7 - Berlin, Deutschland
Dauer: 13 Sept. 200615 Sept. 2006

Konferenz

Konferenz7th European Conference Residual Stresses ECRS7
Land/GebietDeutschland
OrtBerlin
Zeitraum13/09/0615/09/06