Effect of growth conditions on interface stability and thermophysical properties of sputtered Cu films on Si with and without WTi barrier layers
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
Originalsprache | Englisch |
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Seiten (von - bis) | 022201-1 - 022201-11 |
Seitenumfang | 11 |
Fachzeitschrift | Journal of vacuum science & technology / B (JVST) |
Jahrgang | 35 |
DOIs | |
Status | Veröffentlicht - 2017 |