Correlation of mechanical damage and electrical behavior of Al/Mo bilayers subjected to bending

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

Externe Organisationseinheiten

  • Business Unit Electronics
  • Plansee SE
  • Erich Schmid Institute of Materials Science of the Austrian Academy of Sciences

Details

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer137480
FachzeitschriftThin solid films
Jahrgang687
DOIs
StatusVeröffentlicht - 1 Okt. 2019