Characterization of Surface and Structure of In Situ Doped Sol-Gel-Derived Silicon Carbide
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Autoren
Organisationseinheiten
Externe Organisationseinheiten
- Graz University of Technology, Institute of Solid State Physics
- Graz Centre for Electron Microscopy (ZFE)
- Vorarlberg University of Applied Sciences
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Aufsatznummer | 1701067 |
| Fachzeitschrift | Advanced Engineering Materials |
| Jahrgang | 20 |
| Ausgabenummer | 6 |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 1 Juni 2018 |
