Rostislav Daniel
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2012
- Veröffentlicht
Mesure de la conductivite thermique d'une couche de CrN par deux techniques de radiometrie photothermique
Battaglia, J-L., Martan, J., Kusiak, A. & Daniel, R., 2012, Congres francais de thermique. S. 108-114Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Microstructure and mechanical properties of nanocrystalline Al-Cr-B-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Lechthaler, M., Rudigier, H., Polcik, P. & Mitterer, C., 2012, in: Surface & coatings technology. 213, S. 1-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructure modifications of CrN coatings by pulsed bias sputtering
Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2012, in: Surface & coatings technology. 206, S. 4666-4671Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Oxidation behavior of arc evaporated Al-Cr-Si-N thin films
Tritremmel, C., Daniel, R., Mitterer, C., Mayrhofer, P. H., Lechthaler, M. & Polcik, P., 2012, in: Journal of vacuum science & technology / A (JVST). 30, S. 061501-1-061501-6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Structure related stress gradients in thin nanocrystalline films revealed by X-ray nanodiffraction
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
TEM characterization of CrN thin films epitaxially grown on MgO (001)
Harzer, T. P., Kormout, K., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermally treated hard coatings characterized by XRD coupled with four-point bending
Steffenelli, M., Riedl, A., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction reveals strain and microstructure evolution in nanocrystalline thin films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G. A., Ecker, W., Vila-Comamala, J., David, C., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2012, in: Scripta materialia. 67, S. 748-751Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2011
- Veröffentlicht
Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
Zhang, Z., Daniel, R., Dehm, G. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM
Zhang, Z., Daniel, R. & Mitterer, C., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
