Rostislav Daniel
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2010
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Development of intrinsic and thermal components of residual stress in nanostructured thin films: Grain size dependent phenomena
Daniel, R., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 8th European Conference on Residual Stresses. S. 15-15Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Effect of Grain Size on the Residual Stress State and Thermal Expansion in Magnetron Sputtered Thin Films
Daniel, R., Holec, D., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 63-63Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Improvement of mechanical and tribological properties of arc evaporated Al-Cr-B-N hard coatings via multilayer architectures
Tritremmel, C., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 12th International Conference on Plasma Surface Engineering. S. 115-115Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Interlayer thickness influence on the tribological response of bi-layer coatings
Fontalvo, G., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010, in: Tribology International. S. 108-112Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Nano-Beam X-ray Diffraction Reveals Structural and Mechanical Gradients in Nano-Crystalline Thin Films
Keckes, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C., Maier, G., Schoeder, S. & Burghammer, M., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual stresses and thermal fatigue in CrN hard coatings characterized by high-temperature synchrotron X-ray diffraction
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Klaus, M., Genzel, C., Mitterer, C. & Keckes, J., 2010, in: Thin solid films. 518, 8, S. 2090-2096Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using C S-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z. L., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Structural characterization of a Cu/MgO(001) interface using CS-corrected HRTEM
Cazottes, S., Zhang, Z., Daniel, R., Chawla, J. S., Gall, D. & Dehm, G., 2010, in: Thin solid films. 519, S. 1662-1667Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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The effect of pulsed biasing on the microstructure and mechanical properties of sputtered TiB2 coatings
Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 12th International Conference on Plasma Surface Engineering. S. 389-389Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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The effect of pulsed biasing on the microstructure and mechanical properties of sputtered TiB2 coatings
Grasser, S., Daniel, R. & Mitterer, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
