Paul Angerer
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Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2021
- Veröffentlicht
Characterization of the gamma-loop in the Fe-P system by coupling DSC and HT-LSCM with complementary in-situ experimental techniques
Bernhard, M., Fuchs, N., Presoly, P., Angerer, P., Friessnegger, B. & Bernhard, C., Apr. 2021, in: Materials characterization. 174Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2020
- Veröffentlicht
Transient phase fraction and dislocation density estimation from in-situ X-ray diffraction data with a low signal-to-noise ratio using a Bayesian approach to the Rietveld analysis
Wiessner, M., Angerer, P., van der Zwaag, S. & Gamsjäger, E., 25 Dez. 2020, in: Materials characterization. 172.2021, February, 9 S., 110860.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2016
- Veröffentlicht
Curvature determination of embedded silicon chips by in situ rocking curve X-ray diffraction measurements at elevated temperatures
Angerer, P., Schöngrundner, R., Macurova, K., Wiessner, M. & Keckes, J., 1 Dez. 2016, in: Powder diffraction. 31, 4, S. 267-273 7 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Thermal stability of residual stresses in Ti-6Al-4V components
Stanojevic, A., Angerer, P. & Oberwinkler, B., 14 Apr. 2016, in: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 119, 1, 012007.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › (peer-reviewed)
