Karl Christian Teichert
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
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Annual Report 2007, FWF-NFN Projekt S9707-N08
Teichert, C., 2008Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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A Novel UV Tunable and Patternable Polyaniline Derivate as a Charge Injection Layer in OLEDs
Simone, R., Grießer, T., Edler, M., Kern, W., Rath, T., Trimmel, G., Pavitschitz, A., Teichert, C., Simbrunner, C., Schwabegger, G. & Sitter, H., 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Anti-adhesive layers on stainless steel using thermally stable dipodal perfluoroalkyl silanes
Kaynak, B., Alpan, C., Kratzer, M., Ganser, C., Teichert, C. & Kern, W., 2017, in: Applied surface science. 416, S. 824-833Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Application of conductive AFM technique to measure electrical conductance of tribofilms
Pondicherry, K., Beinik, I., Grün, F., Godor, I. & Teichert, C., 2009, Proceedings of 26th Danubia-Adria Symposium on Advances in Experimental Mechanics. S. 205-206Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Application of conductive AFM technique to measure electrical conductance of tribofilms
Pondicherry, K., Beinik, I., Grün, F., Godor, I. & Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Application of the page-equation on flat shaped viscose fibre handsheets
Weber, F., Ganser, C., Teichert, C., Schennach, R., Bernt, I. & Eckhart, R., 2014, in: Cellulose. 21, S. 3715-3724Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic force microscopy as a tool to characterize single pulp fibers and fiber-fiber bonds
Ganser, C., Schmied, F., Schennach, R., Hirn, U. & Teichert, C., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2014, in: Chemie-Ingenieur-Technik. 86, S. 857-864Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Atomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems
Weber, A., Resch, K. & Teichert, C., 2010, 10th Austrian Polymer Meeting and 2nd Joint Austrian-Slovenian Polymer Meeting. S. 64-67Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Atomic force microscopy based manipulation of graphene using dynamic plowing lithography
Vasić, B., Kratzer, M., Matković, A., Nevosad, A., Ralević, U., Jovanović, D., Ganser, C., Teichert, C. & Gajić, R., 2013, in: Nanotechnology. 24, S. 015303-015303Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
