Montanuniversität
Organisation: Universität
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
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X-ray characterization of semiconductor nanostructures
Holy, V., Buljan, M. & Lechner, R. T., 2011, in: Semiconductor science and technology. 26, S. 064002/1- 064002/7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-Ray computed tomography – Potenials, expectations and limits in practical application
Schindelbacher, G., Pabel, T. & Geier, G., 2007, in: Casting plant and technology international. S. 34-41Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray Curing of Organic Bonded High Temperature Resistant Ceramics
Puchleitner, R., 2016Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray Diffraction Computed Nanotomography Applied to Solve the Structure of Hierarchically Phase-Separated Metallic Glass
Stoica, M., Sarac, B., Spieckermann, F., Wright, J., Gammer, C., Han, J., Gostin, P. F., Eckert, J. & Löffler, J. F., 29 Jan. 2021, in: ACS nano.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction of Pentacene on organic dielectrics
Moser, A., Flesch, H.-G., Neuhold, A., Edler, M., Grießer, T., Marchl, M., Trimmel, G., Golubkov, A., Haase, A., Smilgies, D.-M., Zojer, E. & Resel, R., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction study of anthracene under high pressure
Oehzelt, M., Resel, R., Hummer, K., Puschnig, P., Draxl, C. & Nakayama, A., 2003, in: Synthetic Metals. 137, S. 913-914Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray fluorescence sorting of non-ferrous metal fractions from municipal solid waste incineration bottom ash processing depending on particle surface properties
Pfandl, K., Küppers, B., Scheiber, S., Stockinger, G., Holzer, J., Pomberger, R., Antrekowitsch, H. & Höllen, D., 1 Feb. 2020, in: Waste management & research. 38, 2, S. 111 - 121 11 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray induced cationic curing of epoxy-bonded composites
Puchleitner, R., Rieß, G. & Kern, W., 2017, in: European polymer journal. 91, S. 31-45Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
