Montanuniversität
Organisation: Universität
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
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Wurzeln und analytische Iteration formal-biholomorpher Abbildungen
Kräuter, A. R., 1980, in: Berichte der Mathematisch-Statistischen Sektion im Forschungszentrum Graz. 123, S. 1-79Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Wzrost molekul para-sexiphenylu na zmodykowanej wiazka jonowa powierzchni TiO2 (110)
Wrana, D., Kratzer, M., Teichert, C. & Krok, F., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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X-alloys: A new generation of aluminum alloys
Stemper, L., 20 Sept. 2020.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung
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Xanthan Gum Evaluation
Piber, M., 2005Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Diplomarbeit
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XIV.Medunarodni Simpozij Gospodarenje Otpadom Zagreb 2016
Sarc, R. & Pomberger, R., 28 Nov. 2016, XIV.Medunarodni Simpozij Gospodarenje Otpadom Zagreb 2016. Anic Vucinin, A. (Hrsg.). Sv. I. Zelina, S. 56 - 57 13 S.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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X-Legierungen: Ein großer Schritt in Richtung Einheitslegierung
Stemper, L., 2020, AluReport. Band 02.2020. S. 40-43Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Sonstiger Beitrag › Forschung
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xP-frag, a distribution-free model to predict blast fragmentation
Sanchidrián, J. A. & Ouchterlony, F., 29 Jan. 2017, Proc 43rd ISEE Conference on Explosives and Blasting Technique. Cleveland, OH, Band 43. S. 265-280 16 S.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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xP-frag: a new model to predict fragmentation from blasting
Sanchidrián, J. A. & Ouchterlony, F., 2017, APS Blasting 5; New development on engineerign blasting: Proc 5th Asia-Pacific Symposium on Blasting Techniques . Wang, X. (Hrsg.). Beijing, China, S. 31-36 6 S.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray based tools for the investigation of buried interfaces in organic electronic devices
Neuhold, A., Brandner, H., Ausserlechner, S. J., Lorbek, S., Neuschitzer, M., Zojer, E., Teichert, C. & Resel, R., 2013, in: Organic electronics. 14, S. 479-487Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
