Lehrstuhl für Physik (460)
Organisation: Lehrstuhl
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
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Einfluss von Probengeometrie und Randkanalequilibrierung auf den Magnetotransport in 2D-Systemen im Quanten Hall Effekt Regime
Oesterreicher, T. & Oswald, J., 2002.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Einfluß von tiefen Akzeptorstörstellen in PbTe nipi-Strukturen
Heigl, G., Pippan, M. & Oswald, J., 1993.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Einfluß von Versetzungen auf die elektronischen Eigenschaften von PbTe nipi-Strukturen
Span, G., Oswald, J. & Heigl, G., 1994.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Elastic Properties of Graphene Obtained by Computational Mechanical Tests
Hartmann, M., Todt, M., Rammerstorfer, F. G., Fischer, F. D. & Paris, O., 2013, in: Europhysics Letters. 103, S. 68004-p1-68004-p6Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical and photovoltaic properties of self assembled Ge nanodomes on Si(001)
Kratzer, M., Prehal, C., Rubezhanska, M., Beinik, I., Kondratenko, S., Kozyrev, Y. & Teichert, C., 2012, in: Physical review : B, Condensed matter and materials physics. 86, S. 245320-1-245320-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical Characterization of Semiconductor Nanostructures by Conductive Probe Based Atomic Force Microscopy Techniques
Beinik, I., 2011, 118 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical Transport in Individual ZnO Nanorods Studied by Photo-Conductive Atomic-Force Microscopy
Kratzer, M., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical Transport of Single ZnO Nanorods studied by Photo- Conductive AFM
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
