Review of scientific instruments, 0034-6748
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0034-6748 |
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1 - 8 von 8Seitengröße: 10
Veröffentlichungen / Abschlussarbeiten
- 2020
- Veröffentlicht
An SEM compatible plasma cell for in situ studies of hydrogen-material interaction
Massone, A., Manhard, A., Jacob, W., Drexler, A., Ecker, W., Hohenwarter, A., Wurster, S. & Kiener, D., 1 Apr. 2020, in: Review of scientific instruments. 91, 4, 043705.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2018
- Veröffentlicht
A new device for high-temperature in situ GISAXS measurements
Fritz-Popovski, G., Bodner, S. C., Sosada-Ludwikowska, F., Maier, G. A., Morak, R., Chitu, L., Bruegemann, L., Lange, J., Krane, H. G. & Paris, O., 5 März 2018, in: Review of scientific instruments. 89.2018, 3, 035103.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2017
- Veröffentlicht
A versatile atomic force microscope integrated with a scanning electron microscope
Kreith, J., Strunz, T., Fantner, E. J., Fantner, G. E. & Cordill, M., 2017, in: Review of scientific instruments. 88, 5, 053704.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2014
- Veröffentlicht
A new method for polychromatic X-ray μLaue diffraction on a Cu pillar using an energy-dispersive pn-junction charge-coupled device
Abboud, A., Kirchlechner, C., Send, S., Micha, J. S., Ulrich, O., Pashniak, N., Strüder, L. W. J., Keckes, J. & Pietsch, U., 2014, in: Review of scientific instruments. 85, S. 1139011-1139018Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2012
- Veröffentlicht
Joint strength measurements of individual fiber-fiber bonds: An atomic force microscopy based method
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2012, in: Review of scientific instruments. S. 073902-1-073902-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Novel temperature dependent tensile test of freestanding copper thin film structures
Smolka, M., Motz, C., Detzel, T., Robl, W., Grießer, T., Wimmer, A. C. & Dehm, G., 2012, in: Review of scientific instruments. Jun;(6), S. 064702/1-064702/9Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2010
- Veröffentlicht
Imaging dislocations in gallium nitride across broad areas using atomic force microscopy
Bennett, S. E., Holec, D., Kappers, M. J., Humphreys, C. J. & Oliver, R. A., 2010, in: Review of scientific instruments. S. 0637011-0637017Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2007
- Veröffentlicht
High-temperature residual stresses in thin films characterized by x-ray diffraction substrate curvature method
Keckes, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Köstenbauer, H., Daniel, R. & Mitterer, C., 2007, in: Review of scientific instruments. 78, S. 036103-01-036103-03Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
