Prediction of Fracture Toughness of a Ceramic Multilayer Composite - Modelling and Experiments

Chen, C. R., Pascual-Herrero, J., Fischer, F. D., Kolednik, O. & Danzer, R., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 409-421

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In situ observation of austenite–ferrite interface migration in a lean Mn steel during cyclic partial phase transformations

Chen, H., Gamsjäger, E., Schider, S., Khanbareh, H. & van der Zwaag, S., 2013, in: Acta materialia. 61, S. 2414-2424

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Grain refinement of hypoeutectic Al-Si alloys with B

Chen, Z., Kang, H., Fan, G., Li, J., Lu, Y., Jie, J., Zhang, Y., Li, T., Jian, X. & Wang, T., 2016, in: Acta materialia. 120, S. 168 178 S.

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The enhanced theta-prime (q0) precipitation in an Al-Cu alloy with trace Au additions

Chen, Y., Zhang, Z., Chen, Z., Tsalanidis, A., Weyland, M., Findlay, S., J. Allen, L., Li, J., V. Medhekar, N. & Bourgeois, L., 2017, in: Acta materialia. 125, S. 340-350 11 S.

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Crystallographic orientation dependent maximum layer thickness of cubic AlN in CrN / AlN multilayers

Chen, Z., Holec, D., Bartosik, M., Mayrhofer, P. H. & Zhang, Z., 2019, in: Acta materialia. 168.2019, 15 April, S. 190-202 13 S.

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Real-time atomic-resolution observation of coherent twin boundary migration in CrN

Chen, Z., Zheng, Y. H., Löfler, L., Bartosik, M., Sheng, H., Gammer, C., Holec, D. & Zhang, Z., 11 Feb. 2021, in: Acta materialia. 208.2021, 15 April, 13 S., 116732.

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Atomic insights on intermixing of nanoscale nitride multilayer triggered by nanoindentation

Chen, Z., Zheng, Y. H., Löfler, L., Bartosik, M., Nayak, G. K., Renk, O., Holec, D., Mayrhofer, P. H. & Zhang, Z., 21 Mai 2021, in: Acta materialia. 214.2021, 1 August, 11 S., 117004.

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Thickness Dependence of crack initiation and propagation in stacks for piezoelectric microelectromechanical systems

Coleman, K., Bermejo, R., Leguillon, D. & Trolier-McKinstry, S., Juni 2020, in: Acta Materialia. 191, S. 245-252

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Adhesion Energies of Cr Thin Films on Polyimide Determined from Buckling: Experiment and Model

Cordill, M., Fischer, F. D., Rammerstorfer, F. G. & Dehm, G., 2010, in: Acta materialia. 58, S. 5520-5531

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Origins of microstructure and stress gradients in nanocrystalline thin films: The role of growth parameters and self-organization

Daniel, R., Keckes, J., Matko, I., Burghammer, M. & Mitterer, C., 2013, in: Acta materialia. 61, S. 6255-6266

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